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贵金属镀层膜厚仪 iEDX-150T
一、产品概述贵金属镀层膜厚仪产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备产品名称:镀层厚度测试仪型 号:iEDX-150T生 产 商:韩国ISP公司 产品图片: 镀层膜厚仪、贵金属电镀层厚度测试
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镀层膜厚测试仪 IEDX-100A
膜厚测试仪是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的检测仪。膜厚测试仪以其快速、准确、无损的特点而广泛应用在电子电器、精密五金
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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X射线镀层膜厚仪 iEDX-150WT
X射线镀层膜厚仪 产品类型:能量色散 X 荧光光谱分析设备 产品名称:X射线镀层膜厚仪 型 号:iEDX-150WT 生 产 商:韩国 ISP 公司 特点:该型仪器采用开槽式大平
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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国产膜厚检测台阶仪
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浪声晓INSIGHT 台式镀层测厚仪镀层分析仪 金属镀层快速测厚
专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可选配高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
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